GB/T 44791-2024 集成电路三维封装 带凸点圆片减薄工艺过程和评价要求

Integrated circuit 3D packaging—Requirement for bumping-wafer-thining process and evaluation

资源信息

标准号 GB/T 44791-2024 标准状态 现行
发布日期 2024-10-26 实施日期 2025-05-01
发布单位 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位 工业和信息化部(电子)

标准状态:现行
标准号:GB/T 44791-2024
标准名:集成电路三维封装 带凸点圆片减薄工艺过程和评价要求
标准英文名:Integrated circuit 3D packaging—Requirement for bumping-wafer-thining process and evaluation
批准发布部门:工业和信息化部(电子)
中国标准分类号:L55
国际标准分类号:31.200
标准层级:GBT推荐性国家标准

提示

本站资源均来自互联网公开发布和用户分享,仅供参考,勿用于任何商业用途

相关内容

  1. JR/T 0025.12-2018 中国金融集成电路(IC)卡规范 第12部分:非接触式IC卡支付规范
  2. JR/T 0025.10-2018 中国金融集成电路(IC)卡规范 第10部分:借记/贷记应用个人化指南
  3. T/ICMTIA BS0029-2022 集成电路材料产品成熟度等级划分及定义
  4. GB/T 37959-2019 含工艺腔室类集成电路装备设计信息模型
  5. YD/T 3037.2-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC
  6. GB/T 39159-2020 集成电路用高纯铜合金靶材
  7. GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
  8. YD/T 3036-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性技术要求
  9. JR/T 0025.7-2018 中国金融集成电路(IC)卡规范 第7部分:借记/贷记应用安全规范
  10. GB/T 47061-2026 企业公共信用信息应用指南