GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范

Specification for alphanumeric marking of silicon wafers

资源信息

标准号 GB/T 34479-2017 标准状态 现行
发布日期 2017-10-14 实施日期 2018-07-01
发布单位 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位 国家标准委

标准状态：现行
标准号：GB/T 34479-2017
标准名：硅片字母数字标志规范
标准英文名：Specification for alphanumeric marking of silicon wafers
批准发布部门：国家标准委
中国标准分类号：H80
国际标准分类号：29.045
标准层级：GBT推荐性国家标准

提示

本站资源均来自互联网公开发布和用户分享，仅供参考，勿用于任何商业用途

相关内容

  1. GB/T 42789-2023 硅片表面光泽度的测试方法
  2. T/CPIA 0037-2022 光伏晶体硅片规范
  3. GB/T 26067-2010 硅片切口尺寸测试方法
  4. GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
  5. GB/T 6621-2009 硅片表面平整度测试方法
  6. T/CPIA 0021-2020 绿色设计产品评价技术规范 光伏硅片
  7. GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
  8. DB31/ 792-2020 硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额
  9. GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
  10. GB/T 11159-2010 低气压试验箱技术条件