GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method
资源信息
| 标准号 | GB/T 26068-2018 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2018-12-28 | 实施日期 | 2019-11-01 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 国家标准委 | ||
标准状态：现行标准号：GB/T 26068-2018标准名：硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法标准英文名：Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method批准发布部门：国家标准委中国标准分类号：H21国际标准分类号：77.040标准层级：GBT推荐性国家标准
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