GB/Z 43510-2023 集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南
Integrated circuit TSV 3D package reliability test methods guideline
资源信息
| 标准号 | GB/Z 43510-2023 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2023-12-28 | 实施日期 | |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 工业和信息化部(电子) | ||
标准状态:现行标准号:GB/Z 43510-2023标准名:集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南标准英文名:Integrated circuit TSV 3D package reliability test methods guideline批准发布部门:工业和信息化部(电子)中国标准分类号:L55国际标准分类号:31.200标准层级:GBZ指导性技术文件
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