GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

资源信息

标准号 GB/T 36477-2018 标准状态 现行
发布日期 2018-06-07 实施日期 2019-01-01
发布单位 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位 工业和信息化部（电子）

标准状态：现行
标准号：GB/T 36477-2018
标准名：半导体集成电路 快闪存储器测试方法
标准英文名：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200
标准层级：GBT推荐性国家标准

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