GB/T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller

资源信息

标准号 GB/T 43061-2023 标准状态 现行
发布日期 2023-09-07 实施日期 2024-04-01
发布单位 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位 工业和信息化部（电子）

标准状态：现行
标准号：GB/T 43061-2023
标准名：半导体集成电路 PWM控制器测试方法
标准英文名：Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
中国标准分类号：L55
国际标准分类号：31.200
标准层级：GBT推荐性国家标准

提示

本站资源均来自互联网公开发布和用户分享，仅供参考，勿用于任何商业用途

相关内容

  1. GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
  2. GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器
  3. GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法
  4. T/ZZB 2858-2022 集成电路 小外形封装引线框架
  5. YD/T 4512-2023 面向物联网设备的嵌入式通用集成电路卡（eUICC）安全能力技术要求
  6. JR/T 0025.8-2018 中国金融集成电路（IC）卡规范 第8部分：与应用无关的非接触式规范
  7. T/CIE 081-2020 工业级高可靠集成电路评价 第16部分： 高频射频识别
  8. T/CIE 071-2020 工业级高可靠集成电路评价 第6部分：蓝牙芯片
  9. JR/T 0025.3-2018 中国金融集成电路（IC）卡规范 第3部分：与应用无关的IC卡与终端接口规范
  10. GB/T 23159-2008 进出口婴幼儿学步带安全要求及测试方法