GB/T 44775-2024 集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求

Integrated circuit 3D packaging— Requirement for die stack process and evaluation

资源信息

标准号 GB/T 44775-2024 标准状态 现行
发布日期 2024-10-26 实施日期 2025-05-01
发布单位 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位 工业和信息化部(电子)

标准状态:现行
标准号:GB/T 44775-2024
标准名:集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求
标准英文名:Integrated circuit 3D packaging— Requirement for die stack process and evaluation
批准发布部门:工业和信息化部(电子)
中国标准分类号:L55
国际标准分类号:31.200
标准层级:GBT推荐性国家标准

提示

本站资源均来自互联网公开发布和用户分享,仅供参考,勿用于任何商业用途

相关内容

  1. YD/T 3037.2-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC
  2. GB/T 37600.11-2018 全国主要产品分类 产品类别核心元数据 第11部分:磁卡与集成电路卡
  3. GB/T 46378-2025 集成电路封装用球形氧化铝微粉
  4. GB/T 36636-2018 识别卡 双界面集成电路卡模块规范
  5. GB/T 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)
  6. GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
  7. GB/T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求(外文版EN)
  8. JR/T 0025.14-2018 中国金融集成电路(IC)卡规范 第14部分:非接触式IC卡小额支付扩展应用规范
  9. GB/T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
  10. GB/T 44925-2024 月球采样样品分样和保存要求