GB/T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
资源信息
| 标准号 | GB/T 43227-2023 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2023-09-07 | 实施日期 | 2024-01-01 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 国家标准委 | ||
标准状态：现行标准号：GB/T 43227-2023标准名：宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法标准英文名：Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire批准发布部门：国家标准委中国标准分类号：A29国际标准分类号：49.040标准层级：GBT推荐性国家标准
提示
本站资源均来自互联网公开发布和用户分享，仅供参考，勿用于任何商业用途
相关内容
- GB/T 3431.2-1986 半导体集成电路文字符号 引出端功能符号
- GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法
- T/ZZB 2858-2022 集成电路 小外形封装引线框架
- GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器
- YD/T 4640-2023 面向消费电子设备的支持远程SIM配置的嵌入式通用集成电路卡（eUICC）技术要求
- JR/T 0025.16-2018 中国金融集成电路（IC）卡规范 第16部分：IC卡互联网终端规范
- GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
- GB/T 30962-2014 识别卡 集成电路卡 大容量卡
- JR/T 0025.3-2018 中国金融集成电路（IC）卡规范 第3部分：与应用无关的IC卡与终端接口规范
- GB/T 38795-2020 汽车侧面气囊和帘式气囊模块性能要求