GB/T 29506-2013 300mm 硅单晶抛光片

300mm polished monocrystalline silicon wafers

资源信息

标准号 GB/T 29506-2013 标准状态 现行
发布日期 2013-05-09 实施日期 2014-02-01
发布单位 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位 国家标准委

标准状态：现行
标准号：GB/T 29506-2013
标准名：300mm 硅单晶抛光片
标准英文名：300mm polished monocrystalline silicon wafers
批准发布部门：国家标准委
中国标准分类号：H82
国际标准分类号：29.045
标准层级：GBT推荐性国家标准

提示

本站资源均来自互联网公开发布和用户分享，仅供参考，勿用于任何商业用途

相关内容

  1. T/NXCL 016-2022 200 mm重掺锑直拉硅单晶抛光片
  2. GB/T 30712-2014 抛光钻石质量测量允差的规定
  3. GB/T 26065-2010 硅单晶抛光试验片规范
  4. GB/T 19921-2018 硅抛光片表面颗粒测试方法
  5. T/FSCPLC 01-2022 陶瓷抛光企业清洁生产评价指标体系
  6. T/ZZB 0648-2018 200 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片
  7. GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片
  8. GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
  9. T/FSCS 001-2022 陶瓷抛光企业清洁生产评价指标体系
  10. T/CNCIA 01001-2016 汽车用高固体分溶剂型涂料