GB/T 14140-2025 半导体晶片直径测试方法

Test method for measuring diameter of semiconductor wafer

资源信息

标准号 GB/T 14140-2025 标准状态 现行
发布日期 2025-08-01 实施日期 2026-02-01
发布单位 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位 国家标准委

标准状态：现行
标准号：GB/T 14140-2025
标准名：半导体晶片直径测试方法
标准英文名：Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
批准发布部门：国家标准委
中国标准分类号：H17
国际标准分类号：77.040
标准层级：GBT推荐性国家标准

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