GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
资源信息
| 标准号 | GB/T 14030-1992 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 1992-12-17 | 实施日期 | 1993-08-01 |
| 发布单位 | 国家技术监督局 | ||
| 归口单位 | 工业和信息化部(电子) | ||
标准状态:现行标准号:GB/T 14030-1992标准名:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理标准英文名:General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits批准发布部门:工业和信息化部(电子)中国标准分类号:L55国际标准分类号:31.200标准层级:GBT推荐性国家标准
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