GB/T 13973-2012 半导体管特性图示仪通用规范
General specification test methods for semiconductor device curve tracers
资源信息
| 标准号 | GB/T 13973-2012 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2012-12-31 | 实施日期 | 2013-06-01 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 工业和信息化部(电子) | ||
标准状态:现行标准号:GB/T 13973-2012标准名:半导体管特性图示仪通用规范标准英文名:General specification test methods for semiconductor device curve tracers批准发布部门:工业和信息化部(电子)中国标准分类号:L85国际标准分类号:17.220标准层级:GBT推荐性国家标准
提示
本站资源均来自互联网公开发布和用户分享,仅供参考,勿用于任何商业用途
相关内容
- T/ZZB 1718-2020 半导体封装用键合金丝
- T/CASAS 016-2022 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)结壳热阻瞬态双界面测试方法
- GB/T 39771.2-2021 半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法
- GB/T 37031-2018 半导体照明术语
- T/CASAS 015-2022 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)功率循环试验方法
- GB/T 43366-2023 宇航用半导体分立器件通用规范
- GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
- SN/T 3480.4-2016 进口电子电工行业成套设备检验技术要求 第4部分:半导体封装测试设备
- T/IAWBS 004-2017 电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法
- GB/T 34498-2017 激光灯用钨阴极材料