T/CSTM 01003-2023 相变存储器电性能测试方法

资源信息

标准状态：现行
标准号：T/CSTM 01003-2023
标准名：相变存储器电性能测试方法
标准英文名：Measurement methods for electrical properties of phase change memory
团体名称：中关村材料试验技术联盟
包含专利：否
中国标准分类号：L 56
国际标准分类号：31.200
行业分类：C397 电子器件制造
标准层级：团体标准
适用范围:本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。 本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）。
主要技术内容：本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）。
起草单位：华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院
起草人：缪向水、何强、童浩、程晓敏、刘峻、李硕、任玲玲、李锟。