T/CASAS 006-2020 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范
The general specification for silicon carbide metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor
资源信息
| 标准号 | T/CASAS 006-2020 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2020-12-28 | 实施日期 | 2021-01-01 |
| 发布单位 | |||
| 归口单位 | |||
标准状态:现行标准号:T/CASAS 006-2020标准名:碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范标准英文名:The general specification for silicon carbide metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor团体名称:北京第三代半导体产业技术创新战略联盟包含专利:否国际标准分类号:29.045行业分类:C397 电子器件制造标准层级:团体标准适用范围:本文件规定了碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(以下简称“晶体管”)的术语、符号、基本额定值和特性、检验要求、测量与试验方法。主要技术内容:本文件规定了碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(以下简称“晶体管”)的术语、符号、基本额定值和特性、检验要求、测量与试验方法。起草单位:中国科学院微电子研究所、全球能源互联网研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十五研究所、华大半导体有限公司、株洲中车时代电气股份有限公司、北京世纪金光半导体有限公司起草人:许恒宇、李金元、刘奥、万彩萍、刘鹏飞、刘国友、孙博韬
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