T/BDT 003-2024 高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备

资源信息

标准状态：现行
标准号：T/BDT 003-2024
标准名：高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备
标准英文名：High-speed analog-to-digital converter（ADC）test equipment
团体名称：中国半导体行业协会
包含专利：否
国际标准分类号：25.040.01 工业自动化系统综合
行业分类：C356 电子和电工机械专用设备制造
标准层级：团体标准
适用范围:本文件规定了高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本文件适用于高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的设计、制造和检验。
主要技术内容：本文件规定了高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的设计、制造和检验。
起草单位：南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文电子科技有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技（上海）股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司
起草人：胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、高召、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙