GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法
Probe test method for light emitting diode chips
资源信息
| 标准号 | GB/T 36613-2018 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2018-09-17 | 实施日期 | 2019-01-01 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 工业和信息化部（电子） | ||
标准状态：现行标准号：GB/T 36613-2018标准名：发光二极管芯片点测方法标准英文名：Probe test method for light emitting diode chips批准发布部门：工业和信息化部（电子）中国标准分类号：L45国际标准分类号：31.260标准层级：GBT推荐性国家标准
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