GB/T 44558-2024 III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法
Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy
资源信息
| 标准号 | GB/T 44558-2024 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2024-09-29 | 实施日期 | 2025-04-01 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 国家标准委 | ||
标准状态：现行标准号：GB/T 44558-2024标准名：III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法标准英文名：Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy批准发布部门：国家标准委中国标准分类号：H21国际标准分类号：77.040标准层级：GBT推荐性国家标准
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