GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
资源信息
| 标准号 | GB/T 42838-2023 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2023-08-06 | 实施日期 | 2023-12-01 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 工业和信息化部(电子) | ||
标准状态:现行标准号:GB/T 42838-2023标准名:半导体集成电路 霍尔电路测试方法标准英文名:Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit批准发布部门:工业和信息化部(电子)中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200标准层级:GBT推荐性国家标准
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