GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
资源信息
| 标准号 | GB/T 37051-2018 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2018-12-28 | 实施日期 | 2019-04-01 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 国家标准委 | ||
标准状态：现行标准号：GB/T 37051-2018标准名：太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法标准英文名：Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer批准发布部门：国家标准委中国标准分类号：H80国际标准分类号：29.045标准层级：GBT推荐性国家标准
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