GB/T 36479-2018 集成电路 焊柱阵列试验方法
Integrated circuits—Test methods for column grid array
资源信息
| 标准号 | GB/T 36479-2018 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2018-06-07 | 实施日期 | 2019-01-01 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 工业和信息化部(电子) | ||
标准状态:现行标准号:GB/T 36479-2018标准名:集成电路 焊柱阵列试验方法标准英文名:Integrated circuits—Test methods for column grid array批准发布部门:工业和信息化部(电子)中国标准分类号:L55国际标准分类号:31.200标准层级:GBT推荐性国家标准
提示
本站资源均来自互联网公开发布和用户分享,仅供参考,勿用于任何商业用途
相关内容
- T/CIE 074-2020 工业级高可靠集成电路评价 第9部分:电表用微控制器(MCU)
- GB/T 12842-1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语
- YD/T 3037.2-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC
- GB/T 37959-2019 含工艺腔室类集成电路装备设计信息模型
- JR/T 0045.3-2014 中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第3部分:借记/贷记应用个人化检测规范
- T/CIE 079-2020 工业级高可靠集成电路评价 第14部分: 图像传感器
- JR/T 0025.16-2018 中国金融集成电路(IC)卡规范 第16部分:IC卡互联网终端规范
- GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法
- YD/T 4513-2023 面向消费电子设备的嵌入式通用集成电路卡(eUICC)安全能力技术要求
- GB/T 14926.53-2001 实验动物 血凝试验