GB/T 33657-2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
资源信息
| 标准号 | GB/T 33657-2017 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2017-05-12 | 实施日期 | 2017-12-01 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 中国科学院 | ||
标准状态：现行标准号：GB/T 33657-2017标准名：纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范标准英文名：Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells批准发布部门：中国科学院中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200标准层级：GBT推荐性国家标准
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