DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范

资源信息

标准状态：现行
标准号：DB51/T 3207-2024
标准名：集成电路测试用微波探针应用规范
批准发布部门：四川省市场监督管理局
制修订：制定
中国标准分类号：L86
国际标准分类号：17.220
行业分类：制造业
标准类别：方法标准
标准分类：四川省
标准层级：DB51四川省地方标准
备案号：118742-2024
备案日期：2024-12-26
适用范围:本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
起草单位：中国电子科技集团公司第九研究所
起草人：刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪