T/SCBDIF 002-2023 液晶面板制程 缺陷检测方法

资源信息

标准状态：现行
标准号：T/SCBDIF 002-2023
标准名：液晶面板制程 缺陷检测方法
团体名称：四川省大数据产业联合会
包含专利：是
国际标准分类号：35.080
行业分类：I659 其他信息技术服务业
标准层级：团体标准
主要技术内容：液晶面板制程是指液晶显示器的核心部件——液晶面板的生产过程，涉及到多种复杂的技术和工艺，如薄膜沉积、光刻曝光、蚀刻剥膜、配向摩擦、胶合贴合、切割分选等。液晶面板制程的质量和效率直接影响到液晶显示器的性能和成本，是液晶显示行业的核心竞争力之一。液晶面板制程缺陷检测是指对液晶面板在生产过程中产生的各种缺陷进行识别和分类的技术和方法，包括点缺陷、线缺陷、Mura缺陷、crack缺陷、broken缺陷、chip缺陷、scratch缺陷、burr缺陷、drop缺陷等。这些缺陷会影响液晶面板的显示效果和可靠性，导致产品不良率增加和客户投诉增多。目前液晶面板制程缺陷检测的主要方式是人工视觉检测和机器视觉检测。
起草单位：成都数之联科技股份有限公司、四川省大数据产业联合会、成都新型显示行业协会、厦门天马微电子有限公司、四川虹微技术有限公司、成都路维光电有限公司、成都路维光电科技有限公司
起草人：傅彦、周俊临、方育柯、孙崇敬、崔爱香、朱小军、罗紫云、陈昕、杨俊宇、陈一汶，黄艺端、赵艺、梁应龙、郑宇辰、周荣梵、刘单、杨发孟