T/CSTM 00162-2020 透射电子显微镜校准方法
Calibration methods for transmission electron microscope
资源信息
| 标准号 | T/CSTM 00162-2020 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2020-03-23 | 实施日期 | 2020-06-23 |
| 发布单位 | |||
| 归口单位 | |||
标准状态:现行标准号:T/CSTM 00162-2020标准名:透射电子显微镜校准方法标准英文名:Calibration methods for transmission electron microscope团体名称:中关村材料试验技术联盟包含专利:否中国标准分类号:A 50国际标准分类号:17.020行业分类:M745 质检技术服务标准层级:团体标准主要技术内容:本部分规定了透射电镜校准方法的术语和定义、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、测量结果不确定度评定、校准结果表达和复校时间间隔。本标准适用于透射电镜放大倍率、样品污染率和样品漂移率的校准。起草单位:中国计量科学研究院、河南科技大学、中南大学、北京市理化分析测试中心、国家石墨烯产品质量监督检验中心(江苏)、中国科学院化学研究所、国家纳米科学中心、深圳市电源技术学会、深圳石墨烯创新中心有限公司起草人:李旭、任玲玲、张毅、梁霄鹏、雷前、刘伟丽、范文浩、刘哲、刘渊、关波、齐笑迎、苏春华、张瑞芳、孙威
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