T/CSPSTC 25-2019 硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法

资源信息

标准状态：现行
标准号：T/CSPSTC 25-2019
标准名：硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法
标准英文名：Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic(PV) modules light induced degration(LID)
团体名称：中国科技产业化促进会
包含专利：否
中国标准分类号：F 12
国际标准分类号：27.160
行业分类：M745 质检技术服务
标准层级：团体标准
适用范围:本标准规定了硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法的范围、术语和定义、装置、试样、程序、数据处理和试验报告。 本标准只适用于硅基薄膜光伏组件。
主要技术内容：主要内容包括范围、术语和定义、装置、抽样、程序、计算、试验报告。在硅基薄膜光伏组件在光照影响下的功率稳定过程中，每个大致相等的辐照周期前后测试最大功率值，最小辐照周期为43kwh/m2，按照IEC 61215-2 MQT 19的规定组件达到稳定后（IEC 61215-1-3：2016中规定（PMAX-PMIN）/PAVE≤2%），持续光照，功率仍旧出现持续下降的趋势。本标准给出以下方程式作为判定组件光致衰减是否达到最终稳定的准则：此处，Pmax、Pmin和Paverage为连续两个周期中测得的三个STC下最大功率的最大值、最小值和平均值。
起草单位：能移动能源控股集团有限公司、东泰高科装备科技有限公司北京分公司、杭州纤纳光电科技有限公司、深圳市创益科技发展有限公司、成都中建材光电材料有限公司、河北汉盛光电科技有限公司、标准联合咨询中心股份公司
起草人：丁建、童翔、李璇、陈振、史振亮、姚冀众、李志坚、蒋猛、薛俊明、卢成绪、郝宇花