T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法

资源信息

标准状态：现行
标准号：T/CNS 81-2022
标准名：电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法
标准英文名：Simulation test method of proton induced displacement damage effects in charge-coupled device
团体名称：中国核学会
包含专利：否
中国标准分类号：F 70
国际标准分类号：27.120.01 核能综合
行业分类：C397 电子器件制造
标准层级：团体标准
适用范围:本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。
主要技术内容：本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。
起草单位：中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团公司第五研究院物资部
起草人：文林、李豫东、郭旗、周东、何承发、张兴尧、于新、冯婕、王信、张丹、崔帅、李鹏伟