T/CESA 1121-2020 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

资源信息

标准状态：现行
标准号：T/CESA 1121-2020
标准名：人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
标准英文名：AI chips-Test metrics and test method of deep learning chips for terminal side
团体名称：中国电子工业标准化技术协会
包含专利：否
国际标准分类号：31.200
行业分类：I6520 集成电路设计
标准层级：团体标准
主要技术内容：本文件规定了对端侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求,适用于端侧深度学习芯片。本文件只规定端侧深度学习芯片基准测试的一般原则。本文件适用于第三方机构对端侧深度学习芯片进行性能测试与评估,也适用于端侧深度学习芯片产品的采购、设计。
起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国科学院计算技术研究所、华为技术有限公司、清华大学、中科寒武纪科技股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、北京地平线机器人有限公司、阿里巴巴平头哥半导体有限公司、深圳云天励飞技术有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海阵量智能科技有限公司、北京君正集成电路股份有限公司和北京芯可鉴科技有限公司
起草人：宋博伟、任翔、赵鑫、钟伟军、陶梦蝶、刘畅、韩银和、李威、全振宇、刘音、李小娟、汪玉、葛广君、恽超、程新超、刘勇、罗恒、张文蒙、代翔、王和国、陆坚、吴庚、周生雷、钟明琛