GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio
资源信息
| 标准号 | GB/T 5594.2-1985 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 1985-11-27 | 实施日期 | 1986-12-01 |
| 发布单位 | 国家标准局 | ||
| 归口单位 | 工业和信息化部（电子） | ||
标准状态：现行标准号：GB/T 5594.2-1985标准名：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法标准英文名：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio批准发布部门：工业和信息化部（电子）中国标准分类号：L32标准层级：GBT推荐性国家标准
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