GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

资源信息

标准号 GB/T 43226-2023 标准状态 现行
发布日期 2023-09-07 实施日期 2024-01-01
发布单位 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位 国家标准委

标准状态：现行
标准号：GB/T 43226-2023
标准名：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
标准英文名：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
批准发布部门：国家标准委
中国标准分类号：V25
国际标准分类号：49.140
标准层级：GBT推荐性国家标准

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