GB/T 42789-2023 硅片表面光泽度的测试方法（外文版EN）
Test method for gloss of silicon wafer
资源信息
| 标准号 | GB/T 42789-2023 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2024-04-12 | 实施日期 | |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 国家标准委 | ||
标准状态：现行标准号：GB/T 42789-2023标准名：硅片表面光泽度的测试方法（外文版EN）标准英文名：Test method for gloss of silicon wafer批准发布部门：国家标准委原文语种：EN中国标准分类号：H21国际标准分类号：77.04标准层级：GBT推荐性国家标准
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