GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
资源信息
| 标准号 | GB/T 41805-2022 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2022-10-14 | 实施日期 | 2023-05-01 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 中国兵器工业集团公司 | ||
标准状态：现行标准号：GB/T 41805-2022标准名：光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法标准英文名：Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging批准发布部门：中国兵器工业集团公司中国标准分类号：N05国际标准分类号：81.040.01标准层级：GBT推荐性国家标准
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