GB/T 33922-2017 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法

Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances

资源信息

标准号 GB/T 33922-2017 标准状态 现行
发布日期 2017-07-12 实施日期 2018-02-01
发布单位 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位 国家标准委

标准状态：现行
标准号：GB/T 33922-2017
标准名：MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
标准英文名：Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances
批准发布部门：国家标准委
中国标准分类号：L55
国际标准分类号：31.200
标准层级：GBT推荐性国家标准

提示

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