GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
资源信息
| 标准号 | GB/T 33236-2016 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2016-12-13 | 实施日期 | 2017-11-01 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 中国科学院 | ||
标准状态：现行标准号：GB/T 33236-2016标准名：多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法标准英文名：Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method批准发布部门：中国科学院中国标准分类号：G04国际标准分类号：71.040.40标准层级：GBT推荐性国家标准
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