GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry
资源信息
| 标准号 | GB/T 32651-2016 | 标准状态 | 现行 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2016-04-25 | 实施日期 | 2016-11-01 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 国家标准委 | ||
标准状态：现行标准号：GB/T 32651-2016标准名：采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法标准英文名：Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry批准发布部门：国家标准委中国标准分类号：H82国际标准分类号：29.045标准层级：GBT推荐性国家标准
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