GB/T 24468-2025 半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）测量方法
Test method for semiconductor equipment reliability, availability and maintainability(RAM)
资源信息
| 标准号 | GB/T 24468-2025 | 标准状态 | 即将实施 |
|---|---|---|---|
| 发布日期 | 2025-10-05 | 实施日期 | 2026-05-01 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | ||
| 归口单位 | 国家标准委 | ||
标准状态：即将实施标准号：GB/T 24468-2025标准名：半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）测量方法标准英文名：Test method for semiconductor equipment reliability, availability and maintainability(RAM)批准发布部门：国家标准委中国标准分类号：L85国际标准分类号：17.040.30标准层级：GBT推荐性国家标准
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