GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits

资源信息

标准号 GB/T 14031-1992 标准状态 现行
发布日期 1992-12-17 实施日期 1993-08-01
发布单位 国家技术监督局
归口单位 工业和信息化部（电子）

标准状态：现行
标准号：GB/T 14031-1992
标准名：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
标准英文名：General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
中国标准分类号：L55
国际标准分类号：31.200
标准层级：GBT推荐性国家标准

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